阻率的定义(Ω·m)
电阻率(resistivity) 是用来表示各种物质电阻特性的物理量。某种材料制成的长1米、横截面积是1平方毫米的在常温下(20℃时)导线的电阻，叫做这种材料的电阻率。
电阻率的单位
国际单位制中，电阻率的单位是欧姆·米(Ω·m或ohmm)，常用单位是欧姆·毫米和欧姆·米。
电阻率的计算公式
电阻率的计算公式为：ρ=RS/L
ρ为电阻率——常用单位Ω·m
S为横截面积——常用单位㎡
R为电阻值——常用单位Ω
L为导线的长度——常用单位m
表面电阻率(Ω)(理论上等于方阻) surfaceresistivity
平行于通过材料表面上电流方向的电位梯度与表面单位宽度上的电流之比，用欧姆表示。
注：如果电流是稳定的，表面电阻率在数值上即等于正方形材料两边的两个电极间的表面电阻，且与该正方形大小无关。
是指表示物体表面形成的使电荷移动或电流流动难易程度的物理量。在固体材料平面上放两个长为L、距离为d的平行电极，则两电极间的材料表面电阻Rso与d成正比，与L成反比，可用下式表达：
d
Rs=ρs——
L
式中的比例系数ρs称作表面电阻率，它与材料的表面性质有关，并随周围气体介质的温度、相对湿度等因素有很大变化，单位用Ω(欧)表示。
方块电阻 ohmspersquare
在长和宽相等的样品上测量的真空金属化镀膜的电阻。 方块电阻 的大小与样品尺寸无关。
薄层电阻又称 方块电阻 ，其定义为正方形的半导体薄层，在电流方向所呈现的电阻，单位为
欧姆每方方阻就是 方块电阻 ，指一个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻，方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形边到边的电阻都是一样的，不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样，这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关。
方阻
方阻是指膜厚一定、长度和宽度相同的膜材料的电阻，又称为片电阻率、面积电阻率。方阻的大小与材料的特性及膜层的厚度有关，而与面积的大小无关。
2.1体积电阻
在试样的相对两表面上放置的两电极间所加直流电压与流过两个电极之间的稳态电流之商;该电流不包括沿材料表面的电流。在两电极间可能形成的极化忽略不计。
2.2体积电阻率
在绝缘材料里面的直流电场强度与稳态电流密度之商，即单位体积内的体积电阻。
2.3表面电阻
在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商;该电流主要为流过试样表层的电流，也包括一部分流过试样体积的电流成分。在两电极间可能形成的极化忽略不计。
2.4表面电阻率
在绝缘材料的表面层的直流电场强度与线电流密度之商，即单位面积内的表面电阻。
介电常数的定义：介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与*终介质中电场比值即为介电常数(permittivity),又称诱电率.它是表示绝缘能力特性的一个系数。
相对介电常数是材料介电常数与真空介电常数的比值。介电常数又叫介质常数，介电系数或 电容率 ，它是表示绝缘能力特性的一个系数，以字母ε表示，单位为法/米(F/m)
定义为电位移D和电场强度E之比，ε=D/Ε。 电位移D的单位是库/二次方米(C/m^2)。
某种电介质的介电常数ε与真空介电常数ε0之比称为该电介质的 相对介电常数 εr ，εr=ε/ε0是无量纲的纯数，εr与电极化率χe的关系为εr=(1+χ)e。
真空介电常数：ε0=8.854187817×10^-12F/m
介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与*终介质中电场比值即为相对介电常数 (permittivity),
如果有高相对介电常数的材料放在电场中，场的强度会在电介质内有可观的下降。
电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。
一个电容板中充入相对介电常数为ε的物质后电容变大ε倍。故相对介电常数εr可以用如下方式测量:首先在其两块极板之间为真空的时候测试电容器的电容C0。然后，用同样的电容极板间距离但在极板间加入电介质后侧得电容Cx。然后相对介电常数可以用下式计算
εr=Cx/C0
电介质有使空间比起实际尺寸变得更大或更小的属性。例如，当一个电介质材料放在两个电荷之间，它会减少作用在它们之间的力，就像它们被移远了一样。
当电磁波穿过电介质，波的速度被减小，有更短的波长。
对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。
电流密度
描述电路中某点电流强弱和流动方向的物理量。它是矢量[1]，其大小等于单位时间内通过垂直于电流方向单位面积的电量，以正电荷流动的方向为这矢量的正方向。
单位：安培每平方米，记作A/㎡。它在物理中一般用J表示。
公式：J=I/A
